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薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片检测-检测服务检测

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检测标准:


1 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 外观


2 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 结构尺寸和偏差


3 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 氧化铝含量


4 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 表面粗糙度


5 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 体积密度


6 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 透液性


7 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 抗折强度


8 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 维氏硬度


9 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 线膨胀系数


10 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 导热率


11 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 抗热震性


12 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 体积电阻率


13 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 击穿强度


14 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 介电常数


15 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-2013 损耗正切值



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